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検索結果: 15件

  カテゴリ メーカー/商品名 希望小売価格 (円/税抜)  
物性計測・成分分析装置・検査機器
粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計
IST-AG(アイエスティー エージー)
粒形・分布解析システム PowderShapeシリーズ
3,040,000~
顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
カールツァイス
マルチイオンビーム顕微鏡 ORION NanoFab
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
カールツァイス
相関顕微鏡システム Correlative Microscopy
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
カールツァイス
走査型電子顕微鏡 FE-SEM Gemini SEM / SIGMAシリーズ
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
カールツァイス
集束イオンビーム(FIB)-SEM複合装置 Crossbeam
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
サーモフィッシャーサイエンティフィック 分析関連
X線分析アナライザー Pathfinder
6,000,000~
顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
サーモフィッシャーサイエンティフィック 分析関連
波長分散型(WDS)X線検出器 MagnaRay
24,800,000~
顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
サーモフィッシャーサイエンティフィック 分析関連
電子線後方散乱回折解析装置(EBSD) Quasor IITM EBSD System
24,000,000~
顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
日本電子
ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-F100
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
日本電子
走査電子顕微鏡 InTouchScopeTM JSM-IT200
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
日本電子
卓上走査電子顕微鏡 NeoScopeTM JCM-7000
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
Filgen(フィルジェン)
UVオゾンクリーナー
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
Filgen(フィルジェン)
電子顕微鏡用 導電性薄膜製膜作製装置
オスミウム・プラズマコーター
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
Filgen(フィルジェン)
電子顕微鏡試料用 真空電子染色装置
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(透過型:TEM・STEM)
日本電子
透過電子顕微鏡 JEM-1400Flash
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