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カテゴリ | メーカー/商品名 | 希望小売価格 (税抜) | ||
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タンパク実験機器 分子間相互作用解析装置 |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) マイクロカロリメーター MicroCal ITCシリーズ |
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タンパク実験機器 タンパク物性解析装置 |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) マイクロカロリメーター MicroCal DSCシリーズ |
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クロマトグラフ(LC・GC) GPCシステム(ゲル浸透クロマトグラフ) |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) マルチ検出器 アドバンスドGPC / SECシステム OMNISEC |
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構造解析・元素分析装置 分子間相互作用解析装置 |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) マイクロカロリメーター MicroCal ITCシリーズ |
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構造解析・元素分析装置 蛍光X線分析装置(XRF) |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) エネルギー分散型蛍光X線分析装置 Epsilon1シリーズ |
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構造解析・元素分析装置 蛍光X線分析装置(XRF) |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) エネルギー分散型蛍光X線分析装置 Epsilon4 |
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構造解析・元素分析装置 蛍光X線分析装置(XRF) |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) オールインワン蛍光X線分析装置 Zetium |
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構造解析・元素分析装置 蛍光X線分析装置(XRF) |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) 卓上型試料前処理装置 LeNeo |
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構造解析・元素分析装置 蛍光X線分析装置(XRF) |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) 多目的X線回折装置 Empyrean |
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構造解析・元素分析装置 蛍光X線分析装置(XRF) |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) 高分解能X線回折装置 X’Pert3 MRD |
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構造解析・元素分析装置 粉末X線回析装置(XRD) |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) 卓上型X線粉末回折装置 Aeris |
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物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) スプレー専用レーザ回折式粒度分布測定装置 スプレーテック |
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物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) ナノトラッキング粒子径測定装置 ナノサイト NS300 |
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物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) レーザ回折式粒度分布測定装置 マスターサイザー3000シリーズ |
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物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
freemantechnology(フリーマンテクノロジー) 粉体流動性分析装置 パウダーレオメーター FT4 |
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物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) 粒子画像分析装置 モフォロギ4 粒子画像及びラマン分光分析装置 モフォロギ4-ID |
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物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) 製造現場・プロセス向け粒子径分布測定機 Insitec / Parsum |
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物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) 粒子径・ゼータ電位測定装置 ゼータサイザーアドバンスシリーズ |
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Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) マイクロカロリメーター MicroCal ITCシリーズ お問い合わせ |
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Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) 卓上型X線粉末回折装置 Aeris お問い合わせ |
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Malvern Panalytical(マルバーン パナリティカル) スプレー専用レーザ回折式粒度分布測定装置 スプレーテック お問い合わせ |
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