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大塚電子 |
スタティック光散乱光度計 SLS-6500HL |
9,900,000 |
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大塚電子 |
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ-2000ZS |
12,000,000 |
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大塚電子 |
ゼータ電位測定システム ELSZ-2000Z |
8,800,000 |
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大塚電子 |
ダイナミック光散乱光度計 DLS-6500 series |
9,800,000～ |
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大塚電子 |
ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000 series |
12,800,000～ |
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大塚電子 |
ファイバー光学動的光散乱光度計 FDLS-3000 |
15,000,000～ |
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大塚電子 |
多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA |
5,500,000 |
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大塚電子 |
濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 |
5,350,000～ |
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大塚電子 |
濃厚系粒径アナライザー FPAR用オートサンプラー FP-3000 |
3,000,000 |
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大塚電子 |
粒径・分子量測定システム ELSZ-2000S |
7,800,000 |
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大塚電子 |
高分子相構造解析システム |
8,000,000～ |
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プロテインシンプル |
マイクロフローイメージング
MFI5200 with Bot1 Autosampler / MFI5200 |
お問い合わせ |
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ベックマン・コールター |
HIAC液中微粒子計測器System9703+ |
4,791,000 |
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ベックマン・コールター |
リアルタイム ゼータ電位・ナノ粒子径測定装置 DelsaMax PRO / DelsaMax CORE |
8,520,000～ |
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ベックマン・コールター |
レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置 LS 13 320 シリーズ |
8,690,000～ |
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ベックマン・コールター |
精密粒度分布測定装置 Multisizer 4e |
8,800,000～ |
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堀場製作所 |
ナノ粒子解析装置（粒子径・ゼータ電位・分子量）nano Partica SZ-100シリーズ |
8,500,000～ |
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堀場製作所 |
レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica mini LA-350 |
5,500,000～ |
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堀場製作所 |
レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-960 |
7,800,000～ |
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堀場製作所 |
自動旋光計 SEPA-500 |
3,300,000～ |
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Anton Paar（アントンパール） |
ゼータ電位・粒径・分子量測定装置 LitesizerTM 500 |
9,000,000～ |
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Anton Paar（アントンパール） |
固体表面分析用ゼータ電位測定装置 SurPASSTM 3 |
9,000,000～ |
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Fluid Imaging（フルイド イメージング） |
フローサイト粒子画像解析装置 FlowCam® シリーズ |
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freemantechnology（フリーマンテクノロジー） |
粉体流動性分析装置 パウダーレオメーター FT4 |
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Malvern Panalytical（マルバーン パナリティカル） |
NanoSight ナノ粒子解析システム |
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Malvern Panalytical（マルバーン パナリティカル） |
スプレー専用レーザ回折式粒度分布測定装置 スプレーテック |
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Malvern Panalytical（マルバーン パナリティカル） |
ナノトラッキング粒子径測定装置 ナノサイト NS300 |
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Malvern Panalytical（マルバーン パナリティカル） |
レーザ回折式粒度分布測定装置 マスターサイザー3000シリーズ |
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Malvern Panalytical（マルバーン パナリティカル） |
共振式質量・粒子径計測システム アルキメデス |
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Malvern Panalytical（マルバーン パナリティカル） |
微量粘度・サイズ測定装置 ビスコサイザーTD |
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Malvern Panalytical（マルバーン パナリティカル） |
粒子画像分析装置 モフォロギ4
粒子画像及びラマン分光分析装置 モフォロギ4-ID |
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Malvern Panalytical（マルバーン パナリティカル） |
粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置 ゼータサイザーナノシリーズ |
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Malvern Panalytical（マルバーン パナリティカル） |
粒子径・ゼータ電位測定装置 ゼータサイザー Ultra / Pro |
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NanoTherics（ナノセリックス） |
ナノ粒子誘導加熱解析装置 magneThermTM |
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