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リタデーション測定装置 RETS-100nx

大塚電子 / 大塚電子
ID:K04890
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分光検出器による高速多波長スペクトル測定と広範囲なリタデーション測定

RETS-100nx

  • 高速な多波長測定が可能
  • 任意波長での高精度なリタデーション測定が可能
  • 傾斜回転ステージ（オプション）の選択で、三次元屈折率パラメータ解析（Ｒｔｈ測定）が可能
  • 軸角度補正機能（オプション）で手軽に再現性良く測定が可能
  • 0～60000nmの幅広いリタデーション測定への対応が可能
  • 剥がさず非破壊で積層フィルムの測定が可能

仕様

型番 RETS-100nx
本体のサイズ
(W)x(D)x(H)mm		 540×580×1,000
重さ 約60kg
電源 AC100V ±10V，1.5kVA
リタデーション測定範囲 0～60,000nm
リタデーション繰り返し性 3σ<=0.08nm*
*水晶波長板（約600nm）
セルギャップ測定範囲 0～600μm （Δn=0.1の場合）
セルギャップ繰り返し性 3σ≦0.005μm （セルギャップ約3μm、Δn=0.1の場合）
軸検出繰り返し性 3σ≦0.08° （水晶波長板 約600nm）
検出器 マルチチャンネル分光器
検出器
測定波長範囲		 400nm～800nm（他選択可能）
測定用光源 100Wハロゲンランプ
データ処理部 パーソナルコンピュータ、モニター
希望小売価格
（税抜）		 お問い合わせ

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