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高速リタデーション測定装置 RE-200

大塚電子 / 大塚電子
ID:K00197
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0nmからの低リタデーション測定に

RE-200

  • 0nmからの低（残留）リタデーション測定が可能です。
  • 光軸検出と同時にリタデーション（Re.）の高速測定が可能です。
    （世界最速相当0.1秒以下での処理が可能）
  • 駆動部がないため、高い繰り返し再現性を実現しています。
  • 設定する測定項目が少なく、測定が簡単です。
  • 測定波長は550nmのほか、さまざまな波長をラインアップしています。
  • Rth測定、全方位角測定が可能です。
    （オプションの自動回転傾斜治具が必要です。）
  • 引張試験機と組み合わせることにより、フィルムの偏光特性と同時に光弾性評価が可能となります。
    （このシステムは特注対応となります。）

仕様

型番 RE-200
本体のサイズ
(W)x(D)x(H)mm		 300×430×560
重さ 20kg
電源 AC 100V
サンプルサイズ 最小10×10mm～最大100×100mm
測定波長 550nm（標準仕様）*1
リタデーション測定範囲 約0nm～約1μm
軸検出繰り返し精度 0.05°（at 3σ）*2
検出器 偏光計測モジュール
測定スポット径 2.2mm×2.2mm
光源 100W ハロゲンランプ または LED光源
測定項目 ・リタデーション（ρ[deg.], Re[nm]）
・主軸方位角（θ[deg.]）
・楕円率（ε）・方位角（γ）
・三次元屈折率（NxNyNz）
用途 ・位相差フィルム、偏光フィルム、楕円フィルム、視野角改善フィルム、各種機能性フィルム
・樹脂、ガラスなど透明で異方性のあるもの（ガラスにひずみ、歪みなど）
希望小売価格
（税抜）		 お問い合わせ
*1 他の測定波長も特注にて対応可能
*2 水晶波長板（約55nm、2枚型）で測定　
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  • ※価格及び製品仕様は予告なく変更されることがあります。
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  • ※製品本来の使用目的に合わせてご利用ください。
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