マルチチャンネル分光器(広ダイナミックレンジタイプ) MCPD-9800

ID:K00190

紫外~近赤外域スペクトルの発光測定に有用な分光器。
広いダイナミックレンジ、高感度タイプ、ファイバー光学系で多目的用途に最適

MCPD-9800

  • 広ダイナミックス・高感度タイプ。極明~極暗を持つ発光測定用途に最適
  • 迷光率を大塚電子社従来機種比1/5に低減。UV評価や蛍光測定に最適
  • スクランブルファイバーの採用*1でファイバー起因誤差を最小化。高再現性を実現
  • UV~NIR帯の測定波長域、及び、サブnm / 数nmの波長分解能を選べる2種類の検出素子*1を採用
  • 軽量・コンパクトな縦置きタイプ、大塚電子社従来機種に比べて容積比約60%ダウン
  • 最短5ミリ秒から65秒*2までの露光時間。微弱光測定から高速測定最適
  • 高感度タイプ仕様では、通常光量のあるサンプルに対し高速連続測定が可能
  • 2種の分光器を連結。UV~NIRの波長域をOne Scanで測定可能なタイプ「MCPD-BB」仕様(ブロードバンドタイプ)を追加。


  • *1 NIRタイプは除く。
    *2 標準仕様は最長20秒。NIRタイプは除く。

仕様

型番 2285C
(512ch)
2285C
(1024ch)
3095C
(512ch)
3095C
(1024ch)
3683C
(512ch)
本体のサイズ
(W)x(D)x(H)mm
105×280×230
重さ 6kg
電源 単相AC100~240V 50/60Hz
測定波長範囲 220nm~850nm300nm~950nm360nm~830nm
分光器 フラットフィールド型
測定項目 ・発光スペクトル測定
・透過・吸収スペクトル測定
・反射スペクトル測定
・蛍光測定
・物体色測定(専用ソフトウエアはオプション)
・光源色測定(専用ソフトウエアはオプション)
・膜厚測定(専用ソフトウエアはオプション)
・プラズマ発光スペクトル測定
波長精度 ±0.3nm
検出素子 電子冷却型CCDイメージセンサ
波長幅 1.4nm/素子0.7nm/素子1.4nm/素子0.7nm/素子1.0nm/素子
用途 ■ 発光・蛍光測定システム
■ プラズマ発光モニター測定システム
■ 高速反射測定システム
■ 高速透過・吸収測定システム
■ 高速物体色測定システム
■ 光源測定(色度・輝度・照度)システム
■ インプロセス膜厚測定システム
■ 複屈折位相差測定システム
■ 微小光学素子測定システム
希望小売価格
(税抜)
5,800,000円
(税込 6,380,000円)
5,800,000円
(税込 6,380,000円)
5,800,000円
(税込 6,380,000円)
5,800,000円
(税込 6,380,000円)
5,800,000円
(税込 6,380,000円)
型番 3683C
(1024ch)
311C
(512ch)
311C
(1024ch)
916C
(512ch)
本体のサイズ
(W)x(D)x(H)mm
105×280×230
重さ 6kg
電源 単相AC100~240V 50/60Hz
測定波長範囲 360nm~830nm360nm~1,100nm900nm~1,600nm
分光器 フラットフィールド型
測定項目 ・発光スペクトル測定
・透過・吸収スペクトル測定
・反射スペクトル測定
・蛍光測定
・物体色測定(専用ソフトウエアはオプション)
・光源色測定(専用ソフトウエアはオプション)
・膜厚測定(専用ソフトウエアはオプション)
・プラズマ発光スペクトル測定
波長精度 ±0.3nm±0.5nm±2.0nm
検出素子 電子冷却型CCDイメージセンサ電子冷却型InGaAsリニアイメージセンサ
波長幅 0.5nm/素子1.6nm/素子0.8nm/素子1.9nm/素子
用途 ■ 発光・蛍光測定システム
■ プラズマ発光モニター測定システム
■ 高速反射測定システム
■ 高速透過・吸収測定システム
■ 高速物体色測定システム
■ 光源測定(色度・輝度・照度)システム
■ インプロセス膜厚測定システム
■ 複屈折位相差測定システム
■ 微小光学素子測定システム
希望小売価格
(税抜)
5,800,000円
(税込 6,380,000円)
5,800,000円
(税込 6,380,000円)
5,800,000円
(税込 6,380,000円)
5,800,000円
(税込 6,380,000円)