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ナノ粒子解析装置 nano Partica SZ-100V2

堀場製作所 / 堀場製作所
ID:K01798
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シングルナノ粒子の評価をより高感度・高精度に1台3役（ナノ粒子測定・ゼータ電位測定・分子量測定）
ナノ粒子のキャラクタリゼーション解析に必須

SZ-100V2

  • ナノ粒子のキャラクタリゼーションを解析する重要な3つの要素測定（ナノ粒子測定・ゼータ電位測定・分子量測定）を1台に集約
  • ppmオーダの希薄系から数十%レベルの高濃度試料まで、そのままの状態でのサンプリング・測定が可能
  • Dual光学系とHORIBAオリジナルのコリレータ採用による高性能化を実現
  • 微小容量電気泳動セルにより、わずか100μLサンプリングでのゼータ電位測定
  • コロイド粒子、機能性ナノ材料、高分子、ミセル、リポソーム、ナノカプセルなど幅広い応用分野に適合　
    サンプリング後は測定開始ボタンを押すだけの使い易いシンプルなオペレーション


    • 粒子径測定精度：ISO13321：1996、JIS Z8826：2005に準拠


仕様

型番 nano Partica SZ-100V2
本体のサイズ
(W)x(D)x(H)mm		 528×385×273（ただし、突起部は除く）
重さ 約25kg
電源 AC100～240V　50/60Hz　150VA
粒子径測定原理 粒子径：光子相関法　
粒子径測定レンジ 0.3nm～10μm（直径）
分子量測定原理 分子量：静的光散乱Debyeプロット
分子量測定レンジ 1,000～2×107（Debyeプロット）、540～2×107 （MHS式*1）
ゼータ電位測定原理 ゼータ電位：電気泳動レーザードップラー法
ゼータ電位測定レンジ -500mV～+500mV（粒子：2.0nm～100μm*2）
希望小売価格
（税抜）		 9,780,000円～
（税込 10,758,000円～）
*1 Mark-Howink-Sakurada式より算出（試料に依存します）
*2 試料に依存します
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  • ※価格及び製品仕様は予告なく変更されることがあります。
  • ※価格に消費税は含まれておりません。
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